Jeol révolutionne la préparation d’échantillons pour la cryomicroscopie électronique

Jeol a en effet annoncé l’introduction de son nouveau CRYO-FIB-SEM, un outil de pointe destiné à la préparation d’échantillons pour la cryomicroscopie électronique (Cryo-EM). Spécialement conçu pour créer des échantillons minces et congelés, le CRYO-FIB-SEM complète parfaitement la technologie Cryo-TEM de Jeol, offrant ainsi une solution intégrée pour l’étude des échantillons biologiques et des biopolymères vitrifiés.

Le CRYO-FIB-SEM intègre un système de refroidissement à l’azote liquide et un mécanisme de transfert cryo-refroidi, assurant une manipulation optimale des échantillons. Il dispose également d’une fonction de revêtement par pulvérisation intégrée, permettant de réaliser le revêtement de conductivité, la formation de films protecteurs et le traitement FIB dans un seul et même système.

Capturer des détails haute résolution de protéines et d’échantillons biologiques

Ce nouvel outil s’intègre directement avec les microscopes électroniques à transmission CRYO ARM 200 et CRYO ARM 300II de JEOL, grâce à une cartouche CRYO ARM spécialement conçue. Cette cartouche permet le transfert direct des échantillons préparés, facilitant ainsi un flux de travail continu et efficace. En collaboration avec des dispositifs cryogéniques fabriqués par Linkam Scientific Instruments et des microscopes à fluorescence de Nikon Solutions, les coordonnées de chaque instrument peuvent être synchronisées, assurant une identification précise de l’orientation et de la position des échantillons lors de chaque transfert.

La cryo-EM permet aux chercheurs de capturer des détails haute résolution de protéines et d’échantillons biologiques, révolutionnant la résolution des structures depuis 2010. Les microscopes Jeol CRYO ARM continuent de repousser les limites de la cristallographie traditionnelle aux rayons X, permettant des reconstructions 3D rapides de virus et de protéines. Les données obtenues peuvent être analysées via diverses techniques, notamment l’analyse de particules uniques, la diffraction électronique MicroED, la cristallographie électronique et la tomographie.